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NanoMap-PS

NanoMap-PS 【探針接觸式輪廓儀】臺(tái)階儀,全新美國(guó)進(jìn)口臺(tái)階儀 性價(jià)比高
NanoMap-PS是一款專門為nm級(jí)薄膜測(cè)量研發(fā)的無(wú)需防震臺(tái)即可測(cè)量的接觸式臺(tái)階儀
AFM同款位移傳感器,超高精度
壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描,無(wú)內(nèi)源振動(dòng)
自集成主動(dòng)反饋式防震系統(tǒng)
*正無(wú)需額外輔助防震系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性納米測(cè)量
納米量級(jí)科學(xué)研究的必備產(chǎn)品
NanoMap-PS臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽(yáng)能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺(tái)階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動(dòng)探索樣品表面,自動(dòng)測(cè)量深受廣大客戶歡迎。
測(cè)量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對(duì)于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測(cè)量無(wú)須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm。可測(cè)表面,包括透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料,金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等;
 AEP的技術(shù)日新月異。欲了解新的產(chǎn)品性能參數(shù),請(qǐng)與我們聯(lián)系。

主要參數(shù) :  
垂直分辨率            0.1nm
垂直量程        1000um
探針接觸力            0.03mg-100mg
平臺(tái)范圍             直徑150毫米(可選200毫米或更大)
高清圖像               4級(jí)放大,彩色CCD
成像光源               雙長(zhǎng)壽命強(qiáng)光LED
金剛石探針            0.5um到25um可選
 


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